SiTest Solutions采用惠瑞捷V5000e进行闪存测试

本文作者:admin       点击: 2008-09-08 00:00
前言:
首屈一指的半导体测试公司惠瑞捷半导体科技有限公司(NASDAQ: VRGY)日前宣布,提供测试工程设计解决方案和服务的领导服务提供商--SiTest Solutions公司已经选择惠瑞捷V5000系列作为闪存测试平台。V5000e将允许SiTest Solutions在不断扩大的一系列功能中增加NAND闪存测试和专用存储器测试功能。

SiTest Solutions之所以选择V5000e,是因为它提供了完善的集成式解决方案,从发布到大批量生产测试,满足了客户对各种存储器件类型的测试需求。SiTest Solutions已经使用V5000e为16Gb/32Gb固态驱动器(SSD)器件开发一种测试应用,这种器件在一个封装中提供了集成NAND闪存和闪存控制器。通过V5000e,SiTest Solutions明显缩短了开发和器件检定时间,有助于加快SSD器件的大批量生产周期。

SiTest Solutions公司董事总经理John Ritchie表示:“从测试程序开发和原型器件检定,到推荐ATE测试平台及大批量测试服务顾问,再到全业务请求,如为大批量生产测试转让和安装应用程序,SiTest Solutions提供了全系列测试服务。V5000e提供了高性能、最大灵活性、可管理测试成本的理想组合,因此我们可以为广大客户提供闪存测试服务。”

惠瑞捷半导体科技有限公司销售、服务和支持副总裁Pascal Ronde表示,“在其扩大产品范围、包括存储器测试之际,能够与SiTest Solutions这样的创新服务顾问公司合作,我们感到非常高兴。V5000系列安装群体很大,允许SiTest Solutions及其客户最大限度地利用ATE投资,扩大工程设计服务。”

惠瑞捷V5000简介

从工程开发到大批量生产,V5000系列存储器测试系统为满足所有存储器测试需求提供了完整的解决方案。通过采用可扩展的平台架构及为高效测试所有存储器类型优化测试仪资源,V5000系列解决了最广泛的存储器测试问题。通过超高针脚数(16,384针脚)、最高的可用并行度(x320 NAND、x256 NOR和MCP)和极大的测试仪利用率,可编程接口矩阵技术可以明显降低成品测试成本。V5000e的平台架构为客户提供了完整的测试移植能力和稳定性,在从设计、分类到成品测试的整个测试演进过程中实现全新的效率。

SiTest Solutions有限公司简介

SiTest Solutions有限公司(www.SiTestSolutions.com)是领先的测试解决方案服务和战略的独立提供商。公司提供战略和产品,优化测试吞吐量,最大限度地降低测试成本。SiTest Solutions作为客户测试和产品工程团队的扩展机构运作,在中国及亚洲其它地区为大批量生产测试支持提供直接的技术管道。SiTest Solutions已经通过ISO9001:2000质量管理体系认证。

惠瑞捷半导体科技有限公司简介

惠瑞捷是为半导体行业提供先进测试系统和解决方案的领导厂商。我们通过对产品测试的灵活性、成本和性能不断优化,帮助设计人员和制造商降低测试成本,提升竞争力:
• V93000系列平台可用于测试系统级芯片(SOC)、系统级封装(SIP)和高速存储器件。扩充性极佳的V93000以其杰出的灵活性,最大程度满足了测试产品高性能与低成本的要求,具有更高利用率和更长的产品生命周期。
• V5000系列平台可测试的存储器件包括闪存和多芯片封装(MCPs)。V5000的可扩展架构和优化的测试系统资源,可以有效测试各种存储器类型,为晶圆测试和成品测试提供兼容的端到端解决方案。
• Inovys DfX解决方案提供了良率改善、故障分析和设计调试功能。先进的Inovys工具可以明显改善复杂SoC的合格产出周期。
从设计阶段到产品定型,再到大批量生产,惠瑞捷提供了包括改善产出周期在内的众多好处,使用惠瑞捷产品带来的这些益处可以被精确地度量。
如需与惠瑞捷有关的更多信息,请访问:www.verigy.com。