|
属性 |
定义 |
硅 |
SiC-4H |
|
Eg (eV) |
带隙能源 |
1.12 |
3.26 |
|
Ebr (MV/cm) |
临界场击穿电压 |
0.3 |
3.0 |
|
vs(x107cm/s) |
饱和速度 |
1.0 |
2.2 |
|
μ (cm2/V.s) |
电子迁移率 |
1400 |
900 |
|
λ (W / cm.K) |
热导率 |
1.3 |
3.7 |
Copyright © 2002-2023 CompoTech China. 版权所有
京ICP备12000764号-1